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PS-250D
型號(hào) PS-250D
多功能高強(qiáng)度分體式氙氣閃頻儀
產(chǎn)品應(yīng)用
在半導(dǎo)體硅板的加工過程中,越來越多的制造廠商開始重視對(duì)其壽命的測(cè)試,這個(gè)測(cè)試涉及對(duì)金屬雜質(zhì)含量及結(jié)晶瑕疵的判斷和分析。因此日本NAPSON公司結(jié)合SUGAWARA的閃頻儀技術(shù),研發(fā)設(shè)計(jì)出針對(duì)硅板壽命測(cè)試的專用檢測(cè)設(shè)備。
壽命測(cè)試是指用氙氣閃光燈對(duì)硅板進(jìn)行短暫照射增加正負(fù)極電子數(shù)量,在硅體電子數(shù)量伴隨使用時(shí)間減少后,通過照射增加到原來的數(shù)量,恢復(fù)到初始狀態(tài)。P型硅晶體通常會(huì)有大量正極電子,而N型則是負(fù)極電子偏多,通過氙氣閃光燈的短暫照射,可以使各自的電子數(shù)量恢復(fù)到原始狀態(tài)。